
随着电子产品向轻薄化、高性能和高集成度方向发展,先进封装技术正不断向更小尺寸、更高I/O密度和多层堆叠方向演进。以 PoP(Package on Package)、SiP(System in Package)等为代表的3D封装技术,对封装互连材料的尺寸稳定性和可靠性提出了更高要求。
优异的抗塌陷能力
有效控制回流焊后的焊点高度,保持稳定间距。
提升封装可靠性
降低热循环和机械应力带来的焊点失效风险。
适用于多次回流焊工艺
铜芯在高温环境下保持稳定,为复杂封装提供可靠支撑。
良好的尺寸一致性
有助于提高封装共面性和组装良率。
SAC305镀层均匀稳定
Ag含量分布均匀,镀层厚度一致,满足先进封装对可靠性的要求。
PoP(Package on Package)封装
SiP(System in Package)封装
存储器封装
移动终端芯片
AI与高性能计算芯片
消费电子产品
汽车电子
通信设备
铜芯结构支撑
SAC305、SAC405等多种合金镀层可选
精确球径控制
良好的共面性
高可靠性互连
适用于先进封装工艺

"}}
地址:珠海市横琴新区荣珠道191号写字楼2106房
中国河南省洛阳市宜阳产业集聚区电子电器工业园1号
电话: 0756-6831190
0379-68950718
手机:13333896565(微信同号)
13532262175(微信同号)
邮箱:caojiangwei@jinnho.com
tristawang@jinnhoo.com
0379-68950718
+8613333896565
+8613532262175